EOS

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EOS（Electrical Over Stress）指电子元器件承受超过设计限值的电流或电压时引发的热破坏现象。其破坏形式包括芯片烧毁、键合线熔断等单次失效及光衰等渐进式损伤。与静电放电（ESD）相比，EOS事件持续时间更长（毫秒至秒级）、电压更低但电流更高。防护技术上采用火花间隙结构、限流电阻器与并联保护器件组合方案，2024年3月的发明专利提出通过电弧放电机制实现EOS实时检测与防护。查看百科

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